Microscópio Para Inspeção De Semicondutores – MX63

Otimize o seu processo de trabalho de inspeção de amostras grandes
Os sistemas de microscópio MX63 e MX63L são otimizados para inspeções de alta qualidade de wafers de até 300 mm, painéis de display planos, placas de circuito e outras amostras grandes. Seu design modular permite que você escolha os componentes de que precisa para adaptar o sistema à sua aplicação.

Esses microscópios ergonômicos e fáceis de usar ajudam a aumentar a produtividade operacional enquanto mantém os inspetores confortáveis durante o seu trabalho. Em combinação com o software de análise de imagens PRECiV, todo o seu processo de trabalho pode ser simplificado, da observação à criação de relatórios.